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A Position Sensitive X-ray Spectrophotometer using Microwave Kinetic Inductance Detectors

机译:使用微波动力学的位置敏感X射线分光光度计   电感探测器

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摘要

The surface impedance of a superconductor changes when energy is absorbed andCooper pairs are broken to produce single electron (quasiparticle) excitations.This change may be sensitively measured using a thin-film resonant circuitcalled a microwave kinetic inductance detector (MKID). The practicalapplication of MKIDs for photon detection requires a method of efficientlycoupling the photon energy to the MKID. We present results on positionsensitive X-ray detectors made by using two aluminum MKIDs on either side of atantalum photon absorber strip. Diffusion constants, recombination times, andenergy resolution are reported. MKIDs can easily be scaled into large arrays.
机译:超导体的表面阻抗会在吸收能量并且库珀对断裂以产生单电子(准粒子)激发时发生变化,可以使用称为微波动电感检测器(MKID)的薄膜谐振电路来灵敏地测量这种变化。 MKID在光子检测中的实际应用需要一种有效地将光子能量耦合到MKID的方法。我们介绍了在钽光子吸收带两侧使用两个铝MKID制成的位置敏感X射线探测器的结果。报告了扩散常数,重组时间和能量分辨率。 MKID可以轻松扩展为大型阵列。

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